Fournier, Robert (1985). Étude par microscopie électronique en transmission de la microstructure et des effets d'implantation d'H et d'He dans le TiC projeté par plasma. Mémoire. Québec, Université du Québec, Institut national de la recherche scientifique, Maitrise en sciences de l'énergie et des matériaux, 88 p.
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Ce travail porte sur l'utilisation de la microscopie électronique en transmission récente pour effectuer une première évaluation de la microstructure des revêtements de TiC projeté par plasma. De plus, les effets d'implantation d'H et He dans le TiC seront étudiés dans le cadre de la fusion thermonucléaire.
Nous avons mis au point une technique d'amincissement de ce matériau particulièrement fragile à cause de sa grande porosité. Ceci nous a permis d'observer la morphologie du revêtement, le paramètre de réseau ainsi que le rapport C/Ti des divers grains. Nous avons aussi pu déterminer les fluences d'apparition des bulles et des cloques d'He sur des échantillons de TiC polis. Enfin nous avons essayé de détecter s'il y avait formation d'hydrure suite à une irradiation à l'hydrogène.
Nous avons montré que les revêtements projetés avec les poudres 40 μm (diamètre moyen) ne sont pas complètement fondus. De plus, la zone fondue est constituée de grains plus petits (≤ 0,2 μm) que ceux de la zone non fondue (≥ 1 μm). Par spectroscopie et perte d'énergie des électrons (EELS) nous avons observé que ces petits grains subissent une importante décarburation durant le procédé de projection. La grande rugosité des revêtements projetés par plasma prévient la formation des cloques d'He.
| Type de document: | Thèse Mémoire |
|---|---|
| Directeur de mémoire/thèse: | Saint-Jacques, Robert |
| Informations complémentaires: | EMT-M-138 |
| Mots-clés libres: | - |
| Centre: | Centre Énergie Matériaux Télécommunications |
| Date de dépôt: | 10 juill. 2026 19:38 |
| Dernière modification: | 10 juill. 2026 19:38 |
| URI: | https://espace.inrs.ca/id/eprint/17387 |
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